論文題目：超大規(guī)模集成電路老化與內(nèi)建自測試研究
答辯人：李揚
專業(yè)：計算機應(yīng)用技術(shù)
研究方向：嵌入式系統(tǒng)綜合與測試
論文題目：數(shù)字電路老化失效預(yù)測與防護技術(shù)研究
答辯人：嚴魯明
專業(yè)：計算機應(yīng)用技術(shù)
研究方向：數(shù)字電路可靠性技術(shù)
論文題目：集成電路老化預(yù)測與容忍
答辯人：徐輝
專業(yè)：計算機應(yīng)用技術(shù)
研究方向：嵌入式系統(tǒng)綜合與測試
導(dǎo)師：梁華國教授
答辯委員組成
答辯主席：
陳軍寧教授、博導(dǎo) 安徽大學(xué)
答辯委員：
林福江教授、博導(dǎo) 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)
顧乃杰教授、博導(dǎo) 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)
高明倫教授、博導(dǎo) 太陽集團tyc5997
胡學(xué)鋼教授、博導(dǎo) 太陽集團tyc5997
答辯時間：2013年11月23日（周六）14:30
答辯地點：斛兵樓210室
歡迎感興趣的老師、同學(xué)參加答辯會。
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